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近紅外光譜儀分析基本原理

發(fā)布日期:2023-06-20     瀏覽:1323次

  近紅外光譜分析的化學(xué)基礎(chǔ)

  近紅外光譜分析的范圍一般在4000cm-1以上,即波長(zhǎng)在2.5μm以下,由于倍頻帶層次不同,組合頻率吸收形式不同,波段復(fù)雜,信息量大。

  近紅光的信息管理強(qiáng)度比中紅外要低一個(gè)企業(yè)數(shù)目級(jí)左右,由于近紅外譜區(qū)吸收弱,所以可以對(duì)不經(jīng)稀釋的樣品數(shù)據(jù)進(jìn)行研究直接丈量,分析樣品可以不需任何物理、化學(xué)方法制備與預(yù)處理,也不需要通過(guò)分析的后處理,一但近紅外的數(shù)學(xué)模型建立后,對(duì)操縱職員進(jìn)行系統(tǒng)分析的知識(shí)背景與經(jīng)驗(yàn)背景技術(shù)可以得到大幅降低。

  二、近紅外光譜儀是光譜分析的數(shù)學(xué)基礎(chǔ)

  近紅外光譜學(xué)技術(shù)作為一種軟件技術(shù),是一種解決光譜峰值重疊、高背景和低強(qiáng)度測(cè)量信息以及由于光譜測(cè)量不穩(wěn)定造成的光譜失真等問(wèn)題的數(shù)學(xué)方法。

  三、近紅外光譜儀光譜常規(guī)管理分析研究方法

  近紅外光譜的分析測(cè)定技術(shù)大致可以分為透射光譜和反射光譜兩大類。

  透射光譜法是將待測(cè)樣品置于作用光與探測(cè)器之間進(jìn)行測(cè)試。探測(cè)器檢測(cè)到的分析光是作用光與樣品分子通過(guò)樣品體相互作用后的光,樣品中分析光的路徑是確定的,透射光強(qiáng)度和樣品組分的濃度由比耳定律決定。

  在反射光譜分析中,探測(cè)器和光源放置在待測(cè)樣品的同一側(cè),探測(cè)器探測(cè)到的分析光是光源發(fā)出的作用光投射到物體上后通過(guò)各種方式反射的光。物體對(duì)光的反射可以分為規(guī)則反射(鏡面反射)和漫反射。規(guī)則反射光是指根據(jù)入射角為反射角的反射定律,在物體表面的反射。漫反射是光線射入漫反射體(粒子或粉末)后,在物體表面或內(nèi)部產(chǎn)生的一種方向不確定的反射。

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